Аналитическое оборудование
Для неразрушающего рентгеновского контроля ЭРИ, многослойных печатных плат, качества паянных соединений и т.д.:![]() |
Рентгеноскопическая система контроля (X-Ray) XD7500 "Dage" |
Для исследования топологии кристаллов ЭРИ:
![]() |
Аналитическая субмикронная установка зондового контроля ЭМ-6040А " Планар" |
![]() |
Флюоресцентный микроскоп МС 300 (FS) "Micros" |
![]() |
Анализатор изображений микроструктур на базе микроскопа МС 2000 (ТХ) "Micros" |