Аналитическое оборудование
Для неразрушающего рентгеновского контроля ЭРИ, многослойных печатных плат, качества паянных соединений и т.д.: |
| Рентгеноскопическая система контроля (X-Ray) XD7500 "Dage" |
Для исследования топологии кристаллов ЭРИ:
 |
| Аналитическая субмикронная установка зондового контроля ЭМ-6040А " Планар" |
 |
| Флюоресцентный микроскоп МС 300 (FS) "Micros" |
 |
| Анализатор изображений микроструктур на базе микроскопа МС 2000 (ТХ) "Micros" |